Behlke高壓開(kāi)關(guān)HTS 50?08?UF半導(dǎo)體與元器件脈沖測(cè)試

更新時(shí)間：2026-08-05

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Behlke高壓開(kāi)關(guān)HTS 50?08?UF半導(dǎo)體與元器件脈沖測(cè)試

半導(dǎo)體、功率器件與電子元器件脈沖測(cè)試設(shè)備

功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)脈沖測(cè)試是工業(yè)測(cè)試設(shè)備重要方向，MOSFET、IGBT、晶閘管、高壓二極管、壓敏電阻、陶瓷電容等元器件，需要做脈沖耐壓、脈沖浪涌耐受、動(dòng)態(tài)特性測(cè)試，檢驗(yàn)器件在短時(shí)高壓脈沖下工作性能。HTS 50?08?UF作為高速開(kāi)關(guān)，用于測(cè)試設(shè)備內(nèi)部脈沖回路控制，生成標(biāo)準(zhǔn)化高壓測(cè)試脈沖施加至被測(cè)器件DUT。

高壓元器件脈沖沖擊測(cè)試，用于電容、電阻、高壓繼電器、電纜組件的脈沖耐壓篩查。設(shè)備通過(guò)HTS 50?08?UF快速接通高壓回路，輸出指定寬度脈沖，考核被測(cè)樣品抗脈沖沖擊能力。模塊輸出脈沖寬度可以通過(guò)選型選項(xiàng)固定在5ns?1μs區(qū)間，輸出邊沿穩(wěn)定，保證每一件被測(cè)樣品承受一致的脈沖激勵(lì)，實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化批量測(cè)試。模塊具備故障檢測(cè)，當(dāng)被測(cè)器件擊穿短路，開(kāi)關(guān)可以快速識(shí)別異常狀態(tài)，輸出故障信號(hào)給到測(cè)試系統(tǒng)PLC，記錄失效樣品編號(hào)。

Behlke開(kāi)關(guān)型號(hào)：

Behlke HTS 2000-160

Behlke HTS 05-160-F

Behlke HTS 10-70-F

Behlke HTS 20-36-F

Behlke HTS 30-12-F

Behlke HTS 140-25-F

Behlke HTS 70-50-F

Behlke HTS 150-25-F

Behlke HTS 1500-160

半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試，功率器件的雪崩特性、脈沖耐受能力測(cè)試，需要陡峭邊沿高壓脈沖激勵(lì)。分立器件搭建開(kāi)關(guān)很難兼顧5kV耐壓與快速邊沿，HTS 50?08?UF集成模塊降低測(cè)試設(shè)備的硬件開(kāi)發(fā)難度，設(shè)備廠商可以直接采用該模塊作為核心開(kāi)關(guān)部件，縮短測(cè)試儀器研發(fā)周期。同時(shí)模塊高低壓隔離，測(cè)試系統(tǒng)低壓控制部分與5kV高壓回路隔離，保護(hù)采集卡、工控板等前端硬件，防止高壓串入造成設(shè)備燒毀漢達(dá)森yyds吳亞男。